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  • YDZK-06A型壓電阻抗多參數(shù)分析儀
    YDZK-06A型壓電阻抗多參數(shù)分析儀 YDZK-06A型高頻壓電阻抗多參數(shù)分析儀(10Hz-30Mhz)是用于壓電材料測(cè)試，主要是主要用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的高頻阻抗分析與測(cè)試，針對(duì)于材料要求頻率比較高的產(chǎn)品...
  • SYZKF-03N型石英管真空封管機(jī)系統(tǒng)
    SYZKF-03N型石英管真空封管機(jī)系統(tǒng) 石英管真空封管機(jī)系統(tǒng)是由真空封管機(jī)+氫氧機(jī)+真空泵組成+專用石英臺(tái)裝成，能夠快速簡(jiǎn)易地對(duì)石英管抽真空密封，是對(duì)石英管真空密封技術(shù)的進(jìn)步簡(jiǎn)潔凈，安全，有效的提升，將石英管套在真空封管機(jī)上，抽真空的同時(shí)封...
  • LTG-1400玻璃液化梯度爐測(cè)試儀
    LTG-1400玻璃液化梯度爐測(cè)試儀 LTG-1400玻璃液化梯度爐測(cè)試儀是具有一定溫度梯度的熱處理爐，將玻璃試樣放在梯溫爐內(nèi)保溫一定時(shí)間，隨后在空氣中冷卻，通過(guò)確定析晶位置和對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)梯溫曲線，測(cè)定玻璃的析晶溫度范圍。是目前研究玻璃液化梯...
  • RRAM阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀
    RRAM阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀 應(yīng)用領(lǐng)域主要有：Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道結(jié)Electro-Chemical Metallizati...
  • aixPES壓電材料綜合表征測(cè)試系統(tǒng)
    aixPES壓電材料綜合表征測(cè)試系統(tǒng) aixPES壓電材料綜合表征系統(tǒng)本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過(guò)精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信...
  • aixPES-DR鐵電自放電測(cè)試儀
    aixPES-DR鐵電自放電測(cè)試儀 本設(shè)備主要用來(lái)研究電介質(zhì)材料的自漏電性。由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況，因此通過(guò)這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。技術(shù)說(shuō)明：
  • TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展性的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探...
  • TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/...
  • TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
    TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀 鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)...
  • FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀
    FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀 內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測(cè)量后得出的。應(yīng)用領(lǐng)域：鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過(guò)程在MHz的操作速度下，單級(jí)電滯回線數(shù)據(jù)優(yōu)點(diǎn)：生產(chǎn)過(guò)程的工藝優(yōu)...
  • 鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX
    鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX 本設(shè)備主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。技術(shù)說(shuō)明：
  • 雙光束激光干涉儀 aixDBLI
    雙光束激光干涉儀 aixDBLI 雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。這一臺(tái)適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動(dòng)的系統(tǒng)用于8“晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關(guān)性能的測(cè)試。...
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